Электронный каталог

Статья

Строгонов, А.
Методы прогнозирования долговечности ИС по параметрическим отказам / Строгонов А. // Электроника: наука, технология, бизнес (электронная версия). – 2024. – №2. – С.88-96. - 614197. – На рус. яз.

Разработка нового подхода к оценке надежности информационных систем (ИС) и полупроводниковых приборов с помощью математических методов прогнозирования. Выделение Минпромторгом России в 2023 году более 450 млн. рублей на исследования, которые должны базироваться на новейших российских и мировых достижениях в таких областях, как анализ характеристик надежности, теория вероятностей, математическая статистика и автоматизированные методы проектирования изделий микроэлектроники с учетом эффектов старения. Основные методологические подходы, принятые в зарубежной и отечественной практике инженерных школ в области прогнозирования долговечности ИС по параметрическим отказам. Физико-статистический подход при прогнозировании долговечности ИС по параметрическим отказам. Прогнозирование долговечности ИС с помощью теории катастроф и теории нечетких множеств. Прогноз деградации параметров ИС с использованием теории временных рядов.


Ключевые слова = АВТОМАТИЗАЦИЯ
Ключевые слова = ГОСУДАРСТВЕННОЕ ФИНАНСИРОВАНИЕ
Ключевые слова = ЗАРУБЕЖНЫЙ ОПЫТ
Ключевые слова = ИНФОРМАЦИОННАЯ СИСТЕМА
Ключевые слова = МАТЕМАТИЧЕСКИЙ МЕТОД
Ключевые слова = МЕТОДОЛОГИЯ
Ключевые слова = МИНПРОМТОРГ РОССИИ
Ключевые слова = НАДЕЖНОСТЬ
Ключевые слова = ПОЛУПРОВОДНИК
Ключевые слова = ПРОГНОЗИРОВАНИЕ
Ключевые слова = РОССИЯ
Ключевые слова = ЭЛЕКТРОНИКА
Ключевые слова = ТЕХНИКА. ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ ПРОЦЕССЫ В ОТРАСЛЯХ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
Ключевые слова = ЭКОНОМИКА ПРОМЫШЛЕННОСТИ, ТРАНСПОРТА И СВЯЗИ