Электронный каталог

Статья

Строгонов, А.
Характеристики надежности современных ПЛИС / Строгонов А. // Электроника: наука, технология, бизнес. – 2019. – №4. – С.52-58. - 528576. – На рус. яз.

Применение ПЛИС в аппаратуре ответственного назначения, которая должна отвечать высоким требованиям по надежности. Усугубление проблемы обеспечения отказоустойчивости высокоинтегрированных ПЛИС в условиях непрерывного уменьшения технологических проектных норм при изготовлении интегральных схем. Анализ интенсивности отказов и прогнозирование характеристик надежности ПЛИС, проводимый по результатам ускоренных испытаний, которые за относительно короткий период времени позволяют оценить вероятность появления отказов в процессе эксплуатации устройства. Методика расчета экспериментальной интенсивности отказов ПЛИС с использованием статистики хи-квадрат, а также влияние сбоев, вызванных ионизирующим излучением, на характеристики надежности современных ПЛИС, выпускаемых по нанометровым проектным нормам.


Ключевые слова = ИНТЕГРАЛЬНАЯ СХЕМА
Ключевые слова = МЕТОДИКА
Ключевые слова = МИКРОПРОЦЕССОР
Ключевые слова = НАДЕЖНОСТЬ
Ключевые слова = НАНОТЕХНОЛОГИИ
Ключевые слова = ПРОЕКТНАЯ НОРМА
Ключевые слова = ТЕХНИКА. ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ ПРОЦЕССЫ В ОТРАСЛЯХ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
Новые поступления и ретрофонд = Статьи из периодических изданий. 2019 год.