Электронный каталог

Статья

Быканов, В.
Научно-технические проблемы метрологического обеспечения разработки ЭКБ нового поколения / Быканов В., Подъяпольский Б., Булгаков В. // Электроника: наука, технология, бизнес. – 2019. – №3. – С.112-118. - 527689. – На рус. яз.

Приоритетные направления освоения в производстве радиоэлектронной продукции нового поколения, определенные в Стратегии развития электронной промышленности. Основные проблемы метрологического обеспечения испытаний при разработке и производстве ЭКБ. Три группы, выделенные во всем спектре измерительных задач, по данным предприятий разработчиков и изготовителей ЭКБ. Выпускаемые изделия ЭКБ различных видов. Количество параметров и характеристик, подлежащих инструментальному контролю в различных видах интегральных схем, полупроводниковых приборов, изделий оптики и оптоэлектроники, в дискретных элементах ЭКБ. Состояние метрологического обеспечения в СВЧ-диапазоне разработки и эксплуатации высокотехнологичной продукции. Целесообразные действия (меры) для решения вопросов по развитию контрольно-измерительной аппаратуры и средств их метрологического обеспечения, при разработке, производстве, испытаниях современных и перспективных РЭА и ЭКБ.


Ключевые слова = ИЗМЕРЕНИЕ
Ключевые слова = ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ ТЕХНИКА
Ключевые слова = ИНТЕГРАЛЬНАЯ СХЕМА
Ключевые слова = КОНТРОЛЬ
Ключевые слова = МЕТРОЛОГИЯ
Ключевые слова = ОПТИКА
Ключевые слова = ОПТОЭЛЕКТРОНИКА
Ключевые слова = ПОЛУПРОВОДНИК
Ключевые слова = ПРЕДПРИЯТИЕ
Ключевые слова = РАДИОЭЛЕКТРОНИКА
Ключевые слова = РОССИЯ
Ключевые слова = СИЛОВАЯ ЭЛЕКТРОНИКА
Ключевые слова = ЭЛЕКТРОННАЯ ПРОМЫШЛЕННОСТЬ
Ключевые слова = ЭЛЕКТРОННЫЕ КОМПОНЕНТЫ
Ключевые слова = ТЕХНИКА. ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ ПРОЦЕССЫ В ОТРАСЛЯХ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
Новые поступления и ретрофонд = Статьи из периодических изданий. 2019 год.