Поиск :
- Новые поступления
- Поиск
- Поиск одной строкой
- Помощь
- Книги по ТЯЖЕЛОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
- Книги 2022
- Книги 2023
- Книги 2024
- Ретрофонд
- Статьи из информационных обзоров за 2023
- Статьи из информационных обзоров за 2024
- Авторы
- Издательства
- Серии
- Ключевые слова
- Дерево рубрик
- Статистика поисков
- Статистика справок
Разделы фонда
Справочники
Личный кабинет :
Электронный каталог: Контроль микроразмеров в производстве ИС: задачи и особенности
Контроль микроразмеров в производстве ИС: задачи и особенности
Нет экз.
Статья
Автор:
Электроника: наука, технология, бизнес: Контроль микроразмеров в производстве ИС: задачи и особенности
2011 г.
ISBN отсутствует
Автор:
Электроника: наука, технология, бизнес: Контроль микроразмеров в производстве ИС: задачи и особенности
2011 г.
ISBN отсутствует
Статья
Контроль микроразмеров в производстве ИС: задачи и особенности // Электроника: наука, технология, бизнес. – 2011. – 2011 №3. – С.96-103. - 114473. – На рус. яз.
Фотолитография - ключевой технологический процесс в производстве полупроводниковых приборов и микросхем. Суть процесса - в переносе оригинала топологии интегральной схемы на поверхность полупроводниковой кремниевой пластины. Контроль критических размеров на пластинах и фотошаблонах. Обеспечение единства измерений.
Ключевые слова = ИЗМЕРЕНИЕ
Ключевые слова = КОНТРОЛЬ
Ключевые слова = КРЕМНИЙ
Ключевые слова = КРИТИЧЕСКАЯ ТЕХНОЛОГИЯ
Ключевые слова = МЕТРОЛОГИЯ
Ключевые слова = МИКРОСХЕМА
Ключевые слова = ПОЛУПРОВОДНИК
Ключевые слова = ПРИБОРОСТРОЕНИЕ
Ключевые слова = ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ ПРОЦЕСС
Ключевые слова = ФОТОЛИТОГРАФИЯ
Ключевые слова = ТЕХНИКА. ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ ПРОЦЕССЫ В ОТРАСЛЯХ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
Контроль микроразмеров в производстве ИС: задачи и особенности // Электроника: наука, технология, бизнес. – 2011. – 2011 №3. – С.96-103. - 114473. – На рус. яз.
Фотолитография - ключевой технологический процесс в производстве полупроводниковых приборов и микросхем. Суть процесса - в переносе оригинала топологии интегральной схемы на поверхность полупроводниковой кремниевой пластины. Контроль критических размеров на пластинах и фотошаблонах. Обеспечение единства измерений.
Ключевые слова = ИЗМЕРЕНИЕ
Ключевые слова = КОНТРОЛЬ
Ключевые слова = КРЕМНИЙ
Ключевые слова = КРИТИЧЕСКАЯ ТЕХНОЛОГИЯ
Ключевые слова = МЕТРОЛОГИЯ
Ключевые слова = МИКРОСХЕМА
Ключевые слова = ПОЛУПРОВОДНИК
Ключевые слова = ПРИБОРОСТРОЕНИЕ
Ключевые слова = ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ ПРОЦЕСС
Ключевые слова = ФОТОЛИТОГРАФИЯ
Ключевые слова = ТЕХНИКА. ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ ПРОЦЕССЫ В ОТРАСЛЯХ ПРОМЫШЛЕННОСТИ